生产天瑞仪器 x射线膜厚仪 三层镀铝袋
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产品描述

较薄可测试0.005um 较多可测试层数5层 原理X荧光光谱 检测器类型SDD探测器 算法FP基本参数
需要大量的化学品,和较复杂的处理过程,测试成本比较高
三层镀铝袋
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