x射线荧光光谱检测仪 能量色散x射线荧光光谱仪 天瑞仪器生产
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产品描述

能量分辨率144±5eV 测量对象元素含量 测量范围N-U 测量精度1ppm 适用范围电子电器、金属、塑料、涂料 探测器SDD 含量范围ppm-- 电源电压220V 分析时间200秒左右 检测限1ppm(基材不同有所变化)
水泥检测
钢铁和有色金属检测
矿料分析
RoHS检测
x射线荧光光谱检测仪
X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率; 采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比; 采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性; 利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度;采用相似自动分类技术使分类准确,有效地克服基效应对测量带来的影响;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
x射线荧光光谱检测仪
方法应用
①粉末压片法分析痕量元素
粉末压片法多用于分析痕量元素配合熔融法分析主量元素。
②粉末压片法分析主、次、痕量元素
粉末压片法也常用于地质、化探、冶金等样品的全分析。
③熔融后再粉碎压片
熔一块均匀、表面光滑的融片是一项技巧性很强的工作,有些样品不易脱模或容易碎裂,有的对Pt-Au坩埚有腐蚀作用,熔融后粉碎压片的方法(可用石墨坩埚代替Pt-Au坩埚)既可消除颗粒度效应的影响,又解决了不易成型的问题。熔融后再粉碎压片来测定地质试样中的全硫,这样可减小粉末样片保存过程中硫价态变化对分析准确度的影响。
一般来说,对于煤、水泥、岩石、土壤等样品的常规分析,用粉末压片法可达到分析精度和准确度为5%左右的要求。大多数痕量元素的检出限可达100μg/g左右,因X荧光光谱仪有较好的稳定性,还可通过延长计数时间使检出限进一步降低。用粉末压片法制样,结合自动进样装置和自动化分析仪,一次即可准确地分析20-30种元素,完全可以满足地质、矿产、商检等部门的分析需要。
如前所述,粉末压片是根据一定的分析对象进行试验,以选择制样条件,包括各种添加剂的使用、粉碎时间、压力、标样的选取等。这样造成的结果是,对一种分析对象提出的方法不能应用到其它试样中去。关键是尚未找到一种实用有效的粉碎技术,可将粉末试样碎至1-2μm,这种粉碎技术要简单易行,否则就失去了X荧光光谱仪分析快速方便的特点。
x射线荧光光谱检测仪
多功能分析仪 Ux-310
Ux-310 多功能分析仪应对RoHS指令,无卤指令,WEEE指令,土壤、矿石成分分析,铜合金、不锈钢牌号识别的机型。三重射线防护系统;人性化操作界面;即可以管控RoHS指令的Pb、Cd、Hg、PBB和PBDE中的Br、六价铬的Cr和无卤指令中的Cl和Br元素,又能够对土壤、矿石成分分析,铜合金、不锈钢牌号识别。可完全满足客户环保管控要求和材料识别。精心设计的开放式工作曲线功能,特别适用于多材料的工厂制程控制。
应用领域:
用于RoHS指令管控的产品:大型家电、小型家电、信息技术及通讯设备、电动工具、玩具等设备
用于无卤指令管控的产品:用含有Cl、Br等元素的阻燃剂作为原料的产品
用于铜合金、铁合金、铝合金、钛合金、高温合金及各种混杂合金等合金材料内元素成分分析和含量测试
技术指标:
1、仪器尺寸:680(W)x400(D)x390(H)mm
2、样品腔尺寸:300*360*100mm;
3、测试元素范围:S-U中的元素
4、检测范围:1ppm-
5、RoHS检测限:Pb≤5ppm,Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm,Cl≤50ppm
6、测试样品类型:固体、粉末和液体
7、测量时间 :120-400s ( 系统自动调整 )
8、佳分辨率:见下面探测系统详细参数说明
9、准直器:Φ2mm、Φ5mm
10、滤光片:8种复合滤光片自动切换
11、CCD观察:130万像素高清CCD
12、样品微动范围:XY8mm
13、输入电源:AC220V~240V,50/60Hz
14、额定功率:350W
15、重量:约45Kg
16、工作环境温度:温度15-30℃
17、工作环境相对湿度:≤85%(不结露)
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