x射线荧光光谱仪检定用标准物质 天瑞仪器生产 X光谱分析仪
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产品描述

能量分辨率144±5eV 测量对象元素含量 测量范围N-U 测量精度1ppm 适用范围电子电器、金属、塑料、涂料 探测器SDD 含量范围ppm-- 电源电压220V 分析时间200秒左右 检测限1ppm(基材不同有所变化)
X射线荧光光谱仪(XRF)具有谱线简单、不破坏样品、操作简便、测定迅速等优点,广泛应用于地质、冶金、采矿、有色、海洋、生化、环境、石化、商检、电子、、考古、难融化物和建材工业等领域。但因为XRF操作简便的优点,使得现在一些“不求甚解”的使用者,只会使用,缺乏对于XRF的基础知识。你得懂XRF的原理么?你知道XRF的分类么?你知道各类XRF有什么优势么?
下面为大家一一解答:
XRF的原理是什么?
X射线荧光(XRF),顾名思义,利用了X射线和荧光技术,当原级X射线照射在待测样品上,产生的次级X射线叫X射线荧光,通过分析荧光的波长和能量对物质进行成分和化学形态的分析。XRF理论上可以测定元素周期表中所有的元素,但是在实际应用中,一般有效的元素测量范围为从铍(Be)到铀(U)的90余种元素。
XRF的分类有哪些?
XRF根据原理不同主要分为两类:波长色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF),其根本区别在于检测方法的不同:
波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF),简称为波散型XRF,其原理是将X射线荧光通过晶体或人工拟晶体将不同能量的谱线分开,然后进行检测。通过谱线的波长进行定性分析,通过能量的强度进行定量分析。
波散型XRF
能量色散型X射线荧光光谱仪(ED-XRF),简称能散型XRF,没有复杂的分光系统,X射线荧光直接进入探测器,再经放大器放大成形后进入多道脉冲幅度分析器,将不同能量的脉冲分开并处理,就可以对能量范围很宽的X射线谱同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。
x射线荧光光谱仪检定用标准物质
多功能分析仪 Ux-310
Ux-310 多功能分析仪应对RoHS指令,无卤指令,WEEE指令,土壤、矿石成分分析,铜合金、不锈钢牌号识别的机型。三重射线防护系统;人性化操作界面;即可以管控RoHS指令的Pb、Cd、Hg、PBB和PBDE中的Br、六价铬的Cr和无卤指令中的Cl和Br元素,又能够对土壤、矿石成分分析,铜合金、不锈钢牌号识别。可完全满足客户环保管控要求和材料识别。精心设计的开放式工作曲线功能,特别适用于多材料的工厂制程控制。
应用领域:
用于RoHS指令管控的产品:大型家电、小型家电、信息技术及通讯设备、电动工具、玩具等设备
用于无卤指令管控的产品:用含有Cl、Br等元素的阻燃剂作为原料的产品
用于铜合金、铁合金、铝合金、钛合金、高温合金及各种混杂合金等合金材料内元素成分分析和含量测试
技术指标:
1、仪器尺寸:680(W)x400(D)x390(H)mm
2、样品腔尺寸:300*360*100mm;
3、测试元素范围:S-U中的元素
4、检测范围:1ppm-
5、RoHS检测限:Pb≤5ppm,Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm,Cl≤50ppm
6、测试样品类型:固体、粉末和液体
7、测量时间 :120-400s ( 系统自动调整 )
8、佳分辨率:见下面探测系统详细参数说明
9、准直器:Φ2mm、Φ5mm
10、滤光片:8种复合滤光片自动切换
11、CCD观察:130万像素高清CCD
12、样品微动范围:XY8mm
13、输入电源:AC220V~240V,50/60Hz
14、额定功率:350W
15、重量:约45Kg
16、工作环境温度:温度15-30℃
17、工作环境相对湿度:≤85%(不结露)
x射线荧光光谱仪检定用标准物质
型号:3600B
仪器介绍
EDX3600B X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率; 采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比; 采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性; 利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度;采用相似自动分类技术使分类准确,有效地克服基效应对测量带来的影响;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
性能特点
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器,摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
技术指标
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—
同时分析元素:24种元素同时分析
测量镀层:镀层厚度测量薄至0.005微米,可分析5层以上的镀层
分析精度:0.05%
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s
能量分辨率为:(150±5)eV
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
应用领域
钢铁和有色金属检测
水泥检测
矿料分析
(4)型号:HD1000
仪器介绍
XOS公司的HD1000仪器为rohs和涂层表面的有害物质、重属金进行测试而设计。里面配置有x荧光曲面晶体进行单色和聚焦处理,有效的降低了测试背景,使检出限有显著的提高。采用了高清 CCD摄像头进行跟踪测试。
可以对样品中Cd、Pb、Hg、Cr、Ba、Se、As、Sb、Br等元素进行检测。提供人性化的操作界面,操作方便易用。仪器软件有对样品的测试数据、样品高清图片自动保存和编辑的功能。
性能特点
单键操作,简单方便
采用业界的聚光装置,x荧光曲面晶体进行聚光处理
通过使用晶体产生单色光,进行测试,明显减少检测背景干扰。
通过聚光处理,有效降低光管功率的80%,大大延长了光管使用寿命
HD分析仪可分别测定涂层和基体中的铅含量(和其它9种有害元素)――一次完全测定。
测试面积1mm,产品上小的特征也能充分测定。
测试精度和准确性不受表面光滑度和产品形状的影响――光滑或不规则,平面或曲面。
HD 1000分析仪能可靠地测定CPSIA规定中涂层或基体的新标准以下。
分析仪可测试成品、部件或原材料中的铅含量――样品可以是粉末或液体。
HD 1000采用的是无损分析技术,对测试样品不造成任何破坏。
**的简易操作,仪器可以放在工厂地板上,成品库中或试验室里实用。
所有含铅材料都可以有效测定:塑料、木材、金属、纺织品、纸张、玻璃和陶瓷。
HD 1000分析仪的每一个细节和特点均是为达到玩具和儿童用品业的要求而设计和优化的。
x射线荧光光谱仪检定用标准物质
**薄端窗X光管
电制冷UHRD探测器
内置高清晰摄像头
光路增强系统
可自动切换型准直器和滤光片
加强的金属元素感度分析器
外观尺寸: 510×589×350 mm
样品杯尺寸(10个):40.7×26mm
重量:55Kg
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